12/7(水)開催「AI画像検査相談会」のご案内
企業様のワーク(または画像データ)を持参いただくことで、AI画像検査に精通した技術者がその場で検査AIを作成し検査するデモを行います
対面によるAI画像検査に関する技術相談会を開催いたします。検査対象のワークサンプルまたは画像データをご持参ください。(株)MENOU様の技術者が、その場で検査AIを作成しNG箇所検出の様子をデモいたします。必要な装置とソフトの費用、導入ステップ、体制についてもご相談いただけます。
相談会日時と実施方法
令和4年12月7日(水) 10:30~16:10
以下のいずれかのターム(各ターム定員2社(2ブース))にご参加いただけます。
第1ターム 10:30~12:00
第2ターム 13:00~14:30
第3ターム 14:40~16:10
※撮影機材、照明準備のため、参加企業様にワーク等に関する事前ヒアリングを(株)MENOU様より実施させていただきますので、ご了承のうえご協力をお願いいたします。
※相談会については下記チラシ2ページ目も併せてご確認ください。
自動外観検査のためのAI学習と検査装置化研修 チラシ (1.2 MB)
対象
生産工程でのAI画像処理検査を検討中の経営層および担当者の方
※12月6日(火)開催の研修受講は必須ではありません。
相談のみで参加可能です
費用
無料
定員
6社
申し込み期間
令和4年11月29日(火)まで(定員に達した時点で締め切ります)
お問い合わせ先
電子・有機素材研究所 電子システムグループ (担当:山根・福留)
電話:0857-38-6200 FAX:0857-38-6210 E-mail:tiit-info1@tiit.or.jp