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12/7(水)開催「AI画像検査相談会」のご案内

企業様のワーク(または画像データ)を持参いただくことで、AI画像検査に精通した技術者がその場で検査AIを作成し検査するデモを行います

 対面によるAI画像検査に関する技術相談会を開催いたします。検査対象のワークサンプルまたは画像データをご持参ください。(株)MENOU様の技術者が、その場で検査AIを作成しNG箇所検出の様子をデモいたします。必要な装置とソフトの費用、導入ステップ、体制についてもご相談いただけます。

相談会日時と実施方法

 

 令和4年12月7日(水) 10:30~16:10

 
 以下のいずれかのターム(各ターム定員2社(2ブース))にご参加いただけます。
  第1ターム 10:30~12:00
  第2ターム 13:00~14:30
  第3ターム 14:40~16:10

 ※撮影機材、照明準備のため、参加企業様にワーク等に関する事前ヒアリングを(株)MENOU様より実施させていただきますので、ご了承のうえご協力をお願いいたします。

 ※相談会については下記チラシ2ページ目も併せてご確認ください。
     Icon 自動外観検査のためのAI学習と検査装置化研修 チラシ (1.2 MB)

対象

 

 生産工程でのAI画像処理検査を検討中の経営層および担当者の方
 ※12月6日(火)開催の研修受講は必須ではありません。
  相談のみで参加可能です

費用

 無料

定員

 6社

申し込み期間

 令和4年11月29日(火)まで(定員に達した時点で締め切ります)

 

お問い合わせ先

電子・有機素材研究所 電子システムグループ (担当:山根・福留)
電話:0857-38-6200  FAX:0857-38-6210 E-mail:tiit-info1@tiit.or.jp

 

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